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特許一覧
登録番号 |
発明の名称 |
特許第5463553号 |
3次元積層チップ作製方法
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特許第5412667号 |
積層LSIチップのシステム検査のための方法および検査システム
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特許第5412662号 |
低容量貫通電極を持つ3次元積層構造体コンピュータシステム
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特許第5226848号 |
シミュレーション装置及びプログラム
(特許第4975544号の分割) |
特許第5066013号 |
シミュレーション装置及びプログラム |
特許第5007863号 |
3次元物体位置計測装置 |
特許第4975544号 |
シミュレーション装置及びプログラム |
特許第4936238号 |
セキュリティ管理装置 |
特許第4528993号 |
マルチバンクレジスタを有するプロセッサおよびプロセッサの制御方法
(特許第3958320号の分割) |
特許第4214521号 |
情報処理システム及びマルチコア・プロセッサ・システム |
特許第3958320号 |
マルチバンクレジスタを有するプロセッサおよびプロセッサの制御方法 |
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